Закрыть
Fabless IC Design/ Разработка чипов
Dft
|
http://www.businesswire.com/portal/site/google/?ndmViewId=news_view&newsId=20090126005330&newsLang=en список файлов: 
http://www.cs.huji.ac.il/~jarom/vlsi_seminar/2005/lectures.html список файлов:
http://www.semiconductor.net/article/CA6602542.html?PC=L&c=2008_12_dft_technical_news Читать полностью
A sequential scan cell includes an input port for functional data and an input for scan test data. The input for scan test data is an input to a master scan flip-flop coupled to a slave scan flip-flop defining a scan test circuit. Such a scan test circuit is coupled to the functional circuit of the sequential scan cell such that the path for a functional signal is not through the scan test circuit, imparting no performance penalty to the functional signal. Scan test data is scanned in and out of the sequential cell by two non-overlapping scan clocks that are active only when system functional clocks are in an off state. Забиваем Сайты В ТОП КУВАЛДОЙ - Уникальные возможности от SeoHammer
Каждая ссылка анализируется по трем пакетам оценки: SEO, Трафик и SMM.
SeoHammer делает продвижение сайта прозрачным и простым занятием.
Ссылки, вечные ссылки, статьи, упоминания, пресс-релизы - используйте по максимуму потенциал SeoHammer для продвижения вашего сайта.
Что умеет делать SeoHammer
— Продвижение в один клик, интеллектуальный подбор запросов, покупка самых лучших ссылок с высокой степенью качества у лучших бирж ссылок. — Регулярная проверка качества ссылок по более чем 100 показателям и ежедневный пересчет показателей качества проекта. — Все известные форматы ссылок: арендные ссылки, вечные ссылки, публикации (упоминания, мнения, отзывы, статьи, пресс-релизы). — SeoHammer покажет, где рост или падение, а также запросы, на которые нужно обратить внимание. SeoHammer еще предоставляет технологию Буст, она ускоряет продвижение в десятки раз, а первые результаты появляются уже в течение первых 7 дней. Зарегистрироваться и Начать продвижение список файлов:
Tutorial on Design For Testability (DFT) "An ASIC Design Philosophy for testability from Chips to Systems " список файлов:
Asynchronous Test Wrapper for Network-on-Chip Nodes: http://www.cvdis.com/~tran/publications/tran_ets2007.pdf список файлов:
|
февраль 2021
Пн
Вт
Ср
Чт
Пт
Сб
Вс
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
|
|
